OmniScanX3全聚焦相控阵探伤仪行业应用|深圳华清仪器仪表有效公司专业提供深圳华清仪器现货提供OmniScanMX2 OmniScanSX EPOCH650 EPOCH6LT EPOCH6LS EPOCH1000EPOCH1000I EPOCH1000R EPOCH1000IR 等等还有相控阵探头,一般超声波探头、探伤仪连接线、探伤仪标准试块、探伤仪耦合剂等等由于库存随时变动,订货时请与我司销售人员联系,再次确认!期待与君合作!! 检测团队中的主力成员OmniScanX3探伤仪所提供的功能有助于用户地完成检测工作。这些功能可以在以下应用中大显身手:焊缝检测、管线和管道的检测、耐腐蚀合金的检测、腐蚀成像、高温氢致缺陷(HTHA)的检测、初期裂纹的探测、复合材料的检测和缺陷成像。 - 与现有的探头和扫查器相兼容
- 32:128PR型号,提供64晶片的全聚焦方式(TFM)功能
- 还提供16:64PR和16:128PR型号
- 多8个声束组,1024个聚焦法则
- 与OmniScan MX2/SX仪器的文件相兼容,方便了用户转换到新仪器的操作
- 64 GB的内置存储容量,还可以借助外置USB驱动盘扩展存储容量
新一代OmniScan带给您更美好的体验OmniScan X3仪器的软件性能强大,其简洁、现代的菜单结构减少了按键的次数,改进了从开始设置到后制作报告的整个检测过程,因此无论新老用户都会得心应手地使用这款仪器。 
屏幕上多可显示4种模式的全聚焦方式(TFM)图像,有助于缺陷的解读和定量在同一个检测中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(声波组),使检测人员更有希望探测到方向异常的缺陷指示。OmniScan X3探伤仪可以多同时显示4种模式的全聚焦方式(TFM)图像,从而使用户看到从不同角度生成的图像。来自每种模式的响应和特征,如:端部衍射、圆角凹陷和缺陷剖面,可被综合在一起进行分析,从而可以确认缺陷的类型,并提高缺陷定量的性能。 
提前确认覆盖区域声学影响图(AIM)工具可以基于用户的全聚焦方式(TFM)模式、探头、设置和模拟反射体,即刻提供灵敏度的可视化模型。 声学影响图(AIM)工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素,因为屏幕上会显示某个声波组(TFM模式)的效果图,使用户看到灵敏度消失的位置,并对扫查计划进行相应的调整。 
迅速地投入到检测工作中机载扫查计划工具有助于用户在开始检测之前观察到检测图像。 - 在一个简单的工作流程中创建包含全聚焦方式(TFM)区域在内的整个扫查计划
- 同时配置多个探头和声波组
- 改进的校准功能和设置验证工具
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