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奥林巴斯72DL plus技术参数
点击次数:196 更新时间:2023-08-31

72DL PLUS超声测厚仪

高速、高频、高精度测量

  • 坚固耐用:设计符合IP65

  • 大而清晰的屏幕:177.8毫米(7英寸)高分辨率触摸屏 WVGA显示

  • 多样化布局:A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势图和放大图等测量布局提供了厚度变化的准确图像

  • 可自行定制:可选择标准频率模式和高频率模式 — 带有或不带多层测量软件选项

  • 长时电池操作:可最多连续操作8小时

  • 高效的数据管理:内部数据记录和PC机接口应用程序加快了数据收集和查看过程

  • 互联性能:支持无线局域网(LAN)和蓝牙

  • 启用云技术:可通过无线方式连接到奥林巴斯科学云(OSC)和相兼容的OSC APP(应用程序)

  • 轻松设置应用:创建自定义应用,以减少常规检测的设备设置时间

72DL PLUS测厚仪的技术规格


标准频率型号高频率型号
外型尺寸 (宽 × 高 × 厚)238.76 × 172.72 × 86.36 mm
重量2.08 kg
供电设备24 V AC/DC适配器,或73 Wh锂离子电池
电池供电时间8小时
电池存储温度-20°C ~ 40°C
操作温度-10°C ~ 50°C
显示177.8毫米(7英寸)WVGA(800 × 480)PCAP触摸屏,更新率为60 Hz
分辨率低分辨率:0.1 mm低分辨率:25 µm(1 mil = 0.001 in.)
标准分辨率:0.01 mm标准分辨率:2.5 µm(0.1 mil = 0.0001 in.)
高分辨率:0.001 mm高分辨率:0.25 µm(0.01 mil = 0.00001 in.)
厚度范围(取决于探头频率、探头类型和材料)钢:0.20 mm ~ 635 mm塑料:0.0127 mm ~ 25.4 mm
多层测量最多6层
测量速率1到3层,最大2 kHz1到3层,最大1 kHz
4到6层,最大1 kHz4到6层,最大500 Hz
校准单点或两点自动校准;零位偏移和/或声速的手动调整;在冻结波形上进行的单点校准
显示布局A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势图和放大图
容量2 GB; 约400000个厚度读数,20000个波形
频率范围0.2 ~ 30 MHz(-3 dB)20 ~ 125 MHz(-3 dB)
增益自动或手动(最大100 dB)自动或手动(最大80 dB)
IP评级设计符合IP65评级标准并通过测试:防尘,且可抵御来自各个方向的水射流
爆炸性气氛通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。
撞击测试通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试,每个轴6个循环,15 g,11 ms半弦波。
振动测试

通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试,一般暴露:每轴1小时。




 
 
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