无损检测设备_第(14)页-深圳华清仪器仪表有限公司

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	原GE 113-842-280水浸式探头	原GE 113-842-280水浸式探头超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	原GE 113-253-380水浸式探头	原GE 113-253-380水浸式探头超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	原GE 113-243-300水浸式探头	原GE 113-243-300水浸式探头超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	原GE 113-262-380水浸式探头	原GE 113-262-380水浸式探头超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	原GE 113-242-300水浸式探头	原GE 113-242-300水浸式探头超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	原GE 113-142-300水浸式探头	原GE 113-142-300水浸式探头超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	SEKG 2探伤仪探头线	SEKG 2探伤仪探头线超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	SEKL 2探伤仪探头线	SEKL 2探伤仪探头线超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	SEKM 2探伤仪探头线	SEKM 2探伤仪探头线超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	SEKN 2探伤仪探头线	SEKN 2探伤仪探头线超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	贝克休斯VKLL 5探伤仪探头线	贝克休斯VKLL 5探伤仪探头线超声波探伤仪测厚探头保护膜探头订货请联系深圳华清仪器仪表有限公司
	AGFA/贝克休斯E7 80*300mm X射线探伤胶片	AGFA/贝克休斯E7 80*300mm X射线探伤胶片射线检测，本质上是利用电磁波或者电磁辐射（X射线和γ射线）的能量。射线在穿透物体过程中会与物质发生相互作用，因吸收和散射使其强度减弱。强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿透的厚度。
	AGFA/贝克休斯C7 80*360mm X射线探伤胶片	AGFA/贝克休斯C7 80*360mm X射线探伤胶片射线检测，本质上是利用电磁波或者电磁辐射（X射线和γ射线）的能量。射线在穿透物体过程中会与物质发生相互作用，因吸收和散射使其强度减弱。强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿透的厚度。
	AGFA/贝克休斯C7 80*300mm X射线探伤胶片	AGFA/贝克休斯C7 80*300mm X射线探伤胶片射线检测，本质上是利用电磁波或者电磁辐射（X射线和γ射线）的能量。射线在穿透物体过程中会与物质发生相互作用，因吸收和散射使其强度减弱。强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿透的厚度。
	AGFA/贝克休斯C7 14*17inX射线探伤胶片	AGFA/贝克休斯C7 14*17inX射线探伤胶片射线检测，本质上是利用电磁波或者电磁辐射（X射线和γ射线）的能量。射线在穿透物体过程中会与物质发生相互作用，因吸收和散射使其强度减弱。强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿透的厚度。
	贝克休斯E714*17inX射线探伤胶片日期新	贝克休斯E714*17inX射线探伤胶片日期新射线检测，本质上是利用电磁波或者电磁辐射（X射线和γ射线）的能量。射线在穿透物体过程中会与物质发生相互作用，因吸收和散射使其强度减弱。强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿透的厚度。
	D797仪景通/奥林巴斯D797测厚探头	D797仪景通/奥林巴斯D797测厚探头通过选择工件编号要求报价或购买探头。订货联系深圳华清仪器仪表有限公司
	D797-SM仪景通/奥林巴斯D797-SM测厚探头	D797-SM仪景通/奥林巴斯D797-SM测厚探头通过选择工件编号要求报价或购买探头。订货联系深圳华清仪器仪表有限公司
	仪景通/奥林巴斯D793测厚探头	仪景通/奥林巴斯D793测厚探头通过选择工件编号要求报价或购买探头。订货联系深圳华清仪器仪表有限公司
	仪景通/奥林巴斯39DL PLUS超声测厚仪	仪景通/奥林巴斯39DL PLUS超声测厚仪连接：集成Wi-Fi、蓝牙、USB、RS-232和可移动microSD卡* 快速：以快2倍的显示更新率扫描最小厚度区域** 用途广泛：使用我们的全系列双晶和单晶探头，可应对多种厚度应用

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