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产品型号:
CTS-1008plus
产品名称:
TOFD成像超声探伤仪
产品报价:
产品特点:
CTS-1008plus TOFD成像超声探伤仪和TOFD成像检测技术*结合在一起。其常规PE检测支持通用的脉冲反射式超声探伤,性能优异、功能强大实用、具备多种高级性能和支持多种检测标准及应用;而TOFD成像检测技术则是利用超声衍射时差技术工作,配备本公司研制的复合材料探头,对缺陷具有检出率高,定量定位精度高,检测简单快捷,检测效率高等特点;同时该款仪器还可以外接多款扫查设备,支持B、C、D等多种成像方式。
  CTS-1008plus TOFD成像超声探伤仪的详细资料:

CTS-1008plus TOFD成像超声探伤仪

自主创新、不断超越!我司近期推出全自主研制和配套的TOFD成像超声设备CTS-1008plus,成为目前国内*掌握TOFD探头、TOFD仪器及配套扫查架自主设计、制造的厂家。经大量的测试对比,其性能和功能竞争力,充分体现了设备成套设计和制造所带来的先进性和优越性。产品完全符合国内JB/T 4730、GB/T 23902-2009及国外API、ASME、BS、ASTM等标准要求。

    CTS-1008plus便携式超声探伤仪成功地将常规PE检测的高级性能和TOFD成像检测技术*结合在一起。其常规PE检测支持通用的脉冲反射式超声探伤,性能优异、功能强大实用、具备多种高级性能和支持多种检测标准及应用;而TOFD成像检测技术则是利用超声衍射时差技术工作,配备本公司研制的复合材料探头,对缺陷具有检出率高,定量定位精度高,检测简单快捷,检测效率高等特点;同时该款仪器还可以外接多款扫查设备,支持B、C、D等多种成像方式。整机重量仅1.4kg,是目前国内重量zui轻的TOFD检测仪,完全满足您便携式移动检测及各种特殊检测场合的作业需要。

CTS-1008plus TOFD成像超声探伤仪主要特点:
TOFD成像技术(详情见技术参数)
支持常规PE扫查后,TOFD复核、精确测量缺欠尺寸和轮廓,评估缺欠特性及走向;支持TOFD成像后,常规PE确认
zui高采样率可达640MHz,测量分辨率0.1mm,zui小显示范围2mm
工作频率0.5-20MHz,灵敏度余量高达62dB,低频更有更佳的信噪比
高亮度、高分辨率(640x480) 彩色TFT液晶显示屏,实现zui佳的读测结果,国内手持仪器无出其右
带有调节选项的高性能脉冲方波发生器,和探头实现zui佳的匹配(可实现无感线圈探头的优良激励),无论是检测高衰减材料还是薄工件均能带来zui优的性能。方波发生器电压极性可提供正、负两种,亦可同时提供负方波和负尖脉冲
体积小,重量轻,锂电池供电,可连续工作6小时以上
具备LAN网络接口,实现数据的远程传输及仪器控制。当仪器做为方波发生器时,可提供对仪器参数的控制
两维增量型编码器接口,实现精确的位置检测成像(B、C、D扫)
同步模拟RF波形输出,输出阻抗50Ω,可做为数据采集及探头测试的信号源
高速USB接口,可外接U盘实现数据的存储和转存;外挂鼠标能实现对图像化检测结果实现精确的分析
内置充电功能;电池、直流供电自动检测显示;充电、供电自动切换,充电温度双重保护;应用户需求可配外置充电器
多种软件功能,覆盖检测的方方面面;独特的、*性的键盘及万能旋钮调节方式, 使探伤倍感轻松无忧;人性化的菜单设计、多种输入法输入方式、中英文语言菜单等
自动测试探头频率、自动优化方波宽度,实现探头和仪器的zui优配合
图像化厚度报警功能、波形连续存储功能及多种波形测量模式
自动测量仪器指标功能及波峰自动搜索功能
报警时闸门内波形颜色改变、DAC曲线报警颜色提醒、DAC曲线自动延伸
增加API 5UE 和 AWS D1.1功能

CTS-1008plus 主要技术性能:
 

脉冲类型 正方波脉冲,幅度及宽度可调
脉冲前沿 < 10ns
脉冲宽度 30~1000ns连续可调,5ns步进,高频时自动优化为脉冲激励
脉冲幅度 发射电压25V-250V连续可调,25V步进
阻抗 400、80Ω
重复频率 25~1000Hz可调节
检波方式 数字检波
采样频率 160MHz(硬件)
频带宽度 0.5~20MHz(宽带)、1~5MHz(窄带)
动态范围 > 32dB
垂直线性误差 < 3%
水平线性误差 < 0.2%
分辨力 > 36dB
灵敏度余量 > 62dB
波形显示方式 射频波
声速范围 1000~15000m/s
检测范围 0.0~10000mm (钢纵波)。连续可调,zui小步进值 0.1mm
脉冲移位 脉冲移位: -7.5~3000μs 。
触发方式 编码器触发(zui大分辨力0.125mm)
等效输入噪声
衰减精度 < ±1dB/20dB
成像模式 根据仪器的设置和扫查方式显示B扫、D扫、TOFD成像
记录方法 完全原始数据记录
扫查长度 单次zui长5m,自动滚屏,多次无限制
zui小检测厚度 > 6mm,需配合本司探头
扫查架 手动、手推、磁吸、可为用户定做
探头 复合材料,详细参数见规格表
在线/离线数据分析 恢复和回放扫查记录的A扫波形
缺陷尺寸和轮廓、缺陷标记及记录
直通波拉直、底波拉直、差分、对比度调整、SAFT(离线)
数据报告 直接打印校验表、A扫波形、B扫图像、D扫图像、TOFD图像
接口 LAN、USB、两维编码器
显示 5.7”高亮真彩色高分辨率640×480象素TFT屏,扫查时A扫波形和B、D扫图像同步显示
控制 前面板、旋钮、鼠标、键盘
可外接设备 USB、键盘、鼠标,通过USB或LAN连接打印机、U盘

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