供应UV-313或UV-340紫外辐照计

该款紫外辐照计采用 SMT 贴片技术，选用高精
度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测
器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适
用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光
源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度
测量工作。

供应UV-313或UV-340紫外辐照计特点

* 光谱及角度特性经严格校正 

* 数字液晶显示，带背光

* 手动/自动量程切换 

* 数字输出接口（USB,冗余供电） 

* 低电量提醒 

* 自动延时关机 

* 有数字保持 

* 轻触按键操作，蜂鸣提示

主要技术指标  

* 波长范围及峰值波长：(以下两种选其一) （1）UV-340 探头：λ：(315～370)nm；λP＝340nm （2）UV-313 探头：λ：(290～340)nm；λP＝313nm 

* 辐照度测量范围： (0.1～199.9×103 ) μW/cm2 

* 紫外带外区杂光： UV313：小于 0.05% UV340：小于 0.05% 

* 相对示值误差：±8%（相对与 NIM 标准） 

* 余弦特性（方向性响应）误差：±10% 

* 线性误差：±1% 

* 换档误差：±1% 

* 短期不稳定性：±1%（开机 30min 后）

* 疲劳特性：衰减量小于 2% 

* 零值误差：满量程的±1% 

* 响应时间：1 秒 

* 使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH 

* 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

* 电源： 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只 亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电  整机功耗 ＜0.1VA