JW3308 手持式回损仪 一、产品概述 JW3308手持式回损仪设计用于测量各种光器件、 光链路的反射衰耗,控制光纤接头质量,在光纤安装和 系统运行的过程中,可测试光回损质量,是应用于现场的 *化解决方案。可分别用做光回损测试仪、光功率计、 光源,并具有数据存储功能。 二、技术指标 光回损测试 | 测试波长(nm) | 1310/1550 | 谱宽(nm) | <5 | 显示范围(dB) | 6~70 | 精度(dB) | ±0.5 | 分辨率(dB) | 0.01 | 光功率计 | 波长范围(nm) | 850 ~ 1650 | 校准波长(nm) | 850、 1300、 1310 、 1490、 1550 、 1625 | 检测器类型 | InGaAs | 显示模式 | dBm 、dB 、W | 显示范围(dBm) | -70 ~+6 | zui大输入功率(dBm) | +6 | 分辨率(dB) | 0.01 | 精度(dB) | 0.3 | 光源 | 波长(nm) | 1310/1550 | 谱宽(nm) | <5 | zui大输出功率(dBm) | -3 | 稳定度(dB,30min) | ± 0.05 | 调制频率(HZ) | CW, 270, 1K, 2K | |