超声波测厚仪-深圳华清仪器仪表有限公司

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	CTS30升级为CTS-30A超声测厚仪	CTS-30袖珍数字式超声测厚仪是采用*工艺技术和元器件研制的灵敏度高、检出能力强、测量范围大、误差小、功耗低、稳定可靠、使用方便的新产品。其技术性能和功能均达到国外同类产品的水平。
	仪景通D703-RPL1双晶超声探头	仪景通D703-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D714-RPL1双晶超声探头	仪景通D714-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D785-RPL1双晶超声探头	仪景通D785-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D771-RPL1双晶超声探头	仪景通D771-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D706-RPL1双晶超声探头	仪景通D706-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D705-RPL1双晶超声探头	仪景通D705-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D783-RPL1双晶超声探头	仪景通D783-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D781-RPL1双晶超声探头	仪景通D781-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D711-RPL1双晶超声探头	仪景通D711-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D710-RPL1双晶超声探头	仪景通D710-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D709-RPL1双晶超声探头	仪景通D709-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D721-RPL1双晶超声探头	仪景通D721-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D720-RPL1双晶超声探头	仪景通D720-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D713-RPL1双晶超声探头	仪景通D713-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通D712-RPL1双晶超声探头	仪景通D712-RPL1双晶超声探头两个互成角度放置的晶片可在被测材料中创建V形声程。这种“假性聚焦”增强了焦点区域的分辨率。双晶超声探头的两个晶片安装在同一个外壳中，晶片之间有隔音屏障将晶片分隔开。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收回波。
	仪景通39DL PLUS测厚仪	仪景通39DL PLUS测厚仪宽泛的厚度测量范围：0.08 mm～ 635 mm具体可测厚度根据材料和所选探头而定使用双晶探头进行腐蚀厚度测量在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001 mm的厚度测量使用穿透涂层（THRU-COAT）技术和回波到回波功能，可穿透带有漆层和涂层的表面来测量材料的厚度内壁氧化层/积垢软件选项，
	仪景通39DL PLUS超声测厚仪	仪景通39DL PLUS超声测厚仪宽泛的厚度测量范围：0.08 mm～ 635 mm具体可测厚度根据材料和所选探头而定使用双晶探头进行腐蚀厚度测量在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001 mm的厚度测量使用穿透涂层（THRU-COAT）技术和回波到回波功能，可穿透带有漆层和涂层的表面来测量材料的厚度内壁氧化层/积垢软件选项，
	仪景通72DL PLUS测厚仪	仪景通72DL PLUS测厚仪72DL PLUS超声测厚仪小巧便携、易于使用，可以高速提供精确的厚度测量值。该测厚仪具备快速扫查、高级算法和我们有史以来最小可测厚度的能力，可使您充满信心地测量超薄层的厚度，完成具有挑战性的应用。 72DL PLUS测厚仪有标准频率和高频两种型号。高频型号可以测量超薄材料，包括多层油漆、塑料、金属和涂层，多层测量功能可以同时显示多达六个独立层的厚度。所有
	仪景通72DL PLUS便携式超声测厚仪	仪景通72DL PLUS便携式超声测厚仪72DL PLUS超声测厚仪小巧便携、易于使用，可以高速提供精确的厚度测量值。该测厚仪具备快速扫查、高级算法和我们有史以来最小可测厚度的能力，可使您充满信心地测量超薄层的厚度，完成具有挑战性的应用。 72DL PLUS测厚仪有标准频率和高频两种型号。高频型号可以测量超薄材料，包括多层油漆、塑料、金属和涂层，多层测量功能可以同时显示多达六个独立层的厚度。所有

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